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反射式掃描測(cè)試靶
- 產(chǎn)品型號(hào)：
- 更新時(shí)間：2023-12-20
- 產(chǎn)品介紹：反射式掃描測(cè)試靶可用來測(cè)定數(shù)字掃描系統(tǒng)的反射分辨率和圖象特征，符合ISO 16067-1各項(xiàng)要求。本圖案包括Landolt環(huán)，包括文字?jǐn)?shù)字的分辨率圖和邊緣傾斜圖，灰階，以及水平垂直和傾斜圖案（郎奇刻線法）。
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產(chǎn)品介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 組件類別 | 光學(xué)元件 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,電子/電池 |
反射式掃描測(cè)試靶
符合ISO 16067-1標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范
可用來測(cè)試數(shù)字掃描系統(tǒng)
反射式掃描測(cè)試靶可用來測(cè)定數(shù)字掃描系統(tǒng)的反射分辨率和圖象特征，符合ISO 16067-1各項(xiàng)要求。本圖案包括Landolt環(huán)，包括文字?jǐn)?shù)字的分辨率圖和邊緣傾斜圖，灰階，以及水平垂直和傾斜圖案（郎奇刻線法）。
| 標(biāo)題 | 產(chǎn)品編碼 |
| ISO-16067-1 反射式掃描儀測(cè)試目標(biāo)板 | #58-196 |
反射式掃描測(cè)試靶
符合ISO 16067-1標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范
可用來測(cè)試數(shù)字掃描系統(tǒng)
反射式掃描測(cè)試靶可用來測(cè)定數(shù)字掃描系統(tǒng)的反射分辨率和圖象特征，符合ISO 16067-1各項(xiàng)要求。本圖案包括Landolt環(huán)，包括文字?jǐn)?shù)字的分辨率圖和邊緣傾斜圖，灰階，以及水平垂直和傾斜圖案（郎奇刻線法）。
| 標(biāo)題 | 產(chǎn)品編碼 |
| ISO-16067-1 反射式掃描儀測(cè)試目標(biāo)板 | #58-196 |
